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X熒光光譜儀的優(yōu)缺點

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   優(yōu)點:
 
a)分析速度高。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
 
b)X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。
 
c)非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變,也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
 
d)X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
 
e) 分析精密度高。
 
f) 制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
 
缺點:
 
a)難于作分析,故定量分析需要標樣。
 
b)對輕元素的靈敏度要低一些。
 
c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
 
X熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。
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