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公司新聞

簡述鍍層測厚儀的現(xiàn)狀與發(fā)展

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  簡述鍍層測厚儀的現(xiàn)狀與發(fā)展
  鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項(xiàng)目中,對鍍層厚度有了明確要求。
  鍍層測厚儀的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。
  X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。
  隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后,采用鍍層測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可達(dá)到1%,有了大幅度的提高。鍍層測厚儀適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價(jià)廉,是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。
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